應(yīng)用案例
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交付日期:2023年10月20日
客戶單位:南京工業(yè)大學(xué)
交付產(chǎn)品:TLRH系列精密型基礎(chǔ)測(cè)試探針臺(tái)
• 真空卡盤直徑:4英寸
• 樣品臺(tái)位移精度:<3μm
• 探針座位移精度:<3μm
• 漏電流精度:<100fA
• 兼容多種光學(xué)顯微鏡
該探針臺(tái)系統(tǒng)可外引光路實(shí)現(xiàn)光電Mapping測(cè)試,是半導(dǎo)體材料或器件電學(xué)測(cè)試的理想選擇。
• 模塊化設(shè)計(jì),可以搭配不同構(gòu)件完成不同測(cè)試;
• 最大可用于12寸以內(nèi)樣品測(cè)試;
• 探針臺(tái)整體位移精度高達(dá)3μm,樣品臺(tái)精密四維調(diào)節(jié);
• 兼容多種光學(xué)顯微鏡,可外引光路實(shí)現(xiàn)光電Mapping測(cè)試;
• 滿足1µm以上電極/PAD使用;
• 漏電精度可達(dá)10pA/100fA(屏蔽箱內(nèi));
• 探針座采用進(jìn)口交叉滾珠導(dǎo)軌,線性移動(dòng),無回程差設(shè)計(jì);
• 加寬探針放置架,可放置6個(gè)DC探針座/4個(gè)RF探針座;
• 配顯微鏡二維精密調(diào)節(jié)功能,且可選配多種行程及驅(qū)動(dòng)方式。
多被用于科研院校搭建測(cè)試系統(tǒng),例如:材料電學(xué)測(cè)試系統(tǒng)、光電探測(cè)器光電響應(yīng)系統(tǒng)、光電Mapping測(cè)試系統(tǒng)、憶阻器與神經(jīng)元系統(tǒng)等等。
公司可根據(jù)客戶實(shí)際需求定制配套的探針臺(tái),以達(dá)到更好的測(cè)試效果和性價(jià)比,具體可各平臺(tái)咨詢客服。